覆盖材料表征的主要维度，为您提供系统性的实验分析解决方案
利用聚焦电子束扫描样品表面，获取高分辨率的二次电子与背散射电子图像， 用于观察材料的微观形貌、晶粒尺寸、孔隙结构与断口特征。支持低真空与高真空模式， 可适配导电与非导电样品，搭配 EDS 可进行微区成分分析。
采用高能透射电子束穿透薄膜样品，获得纳米甚至原子级分辨率的形貌、结构与成分信息。 提供明场像（BF）、暗场像（DF）、高分辨像（HRTEM）、选区电子衍射（SAED）、 能谱（EDS）与电子能量损失谱（EELS）等多种表征模式。
通过微悬臂探针与样品表面的相互作用，以纳米级分辨率表征样品的三维形貌、 表面粗糙度与力学性质。支持接触模式、轻敲模式与相位成像， 可在大气与液体环境下工作，适用于高分子、生物样品与薄膜材料。
基于特征 X 射线的能量色散谱，对样品进行元素定性与半定量分析。 可结合 SEM 或 TEM 实现微区、线扫描与面扫描的元素分布表征， 适用于金属、陶瓷、半导体、复合材料等多种样品体系。
利用 X 射线激发样品表面光电子，通过分析光电子的动能获取表面元素组成、 化学价态与化学键信息。探测深度为几个纳米，支持角分辨与深度剖析模式， 是表面化学分析的核心手段之一。
基于拉曼散射效应，获取材料的分子振动与晶格振动信息，用于物相鉴定、 结构表征与应力分析。支持不同波长激光激发与显微共焦模式， 可对材料进行微区成像与深度剖面分析。
利用 X 射线在晶体中的衍射效应，获取材料的物相组成、晶体结构、晶粒尺寸与 微观应力等信息。支持粉末衍射、薄膜掠入射衍射（GIXRD）与高分辨衍射模式， 并提供 Rietveld 精修、物相定量与结晶度分析。
基于气体吸附原理，通过氮气或其他吸附质在不同压力下的吸附-脱附等温线， 计算材料的比表面积（BET 法）、孔径分布（BJH / NLDFT 法）与孔体积。 适用于多孔材料、催化剂、吸附剂等样品的孔隙结构表征。
提供三电极体系与两电极体系下的电化学测试服务，包括循环伏安（CV）、 恒流充放电（GCD）、电化学阻抗谱（EIS）、线性扫描伏安（LSV）与 塔菲尔曲线等，支持超级电容器、电池、电催化等体系的性能评估。
测试材料在紫外、可见与近红外波段的吸收、透射与反射光谱， 用于光学带隙估算、浓度定量分析与薄膜光学性质研究。 配备积分球附件，可对粉末、薄膜与液体样品进行漫反射与透射测试。
采用热重分析（TG）与差示扫描量热法（DSC），研究材料在程序控温下的 质量变化与热效应，用于热稳定性评估、相变温度测定、分解动力学分析与 组分含量定量。支持空气、惰性与还原性气氛。
提供材料的拉伸、压缩、弯曲、硬度与纳米压痕等力学性能测试， 评估弹性模量、屈服强度、断裂韧性与硬度等关键指标。 适用于金属、陶瓷、高分子与复合材料的力学表征。
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